X熒光光譜分析儀；XAU：（鍍層測厚-成分分析）

產品類型：能量色散X熒光光譜分析儀

產品名稱：光譜分析儀

產品型號：XAU

產品優勢：

XAU是一款一機多用型光譜儀，應用了EFP算法和微光聚集技術，既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。

用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

1）搭載微聚焦X射線發生器和光路轉換聚焦系統，測量面積達0.03mm²

2）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm

3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，準確檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

4）配備高精密微型移動滑軌，可實現多點位、多樣品的準確位移和同時檢測

5）裝配Si-Pin半導體探測器，分辨率高，測試速度快，數據穩定

6）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

7）成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

8）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

9）四準直器可選，標配為φ0.3mm，測量面積可達0.03mm²

10）配有微光聚集技術，近測距光斑擴散度小于10%

行業應用：各類精密電子鍍薄金

隨著科技的發展，越來越多的行業開始采用鍍金表面處理，用于提升產品的綜合質量。

    電鍍金鍍層耐蝕性強，導電性好，易于焊接，耐高溫，并具有一定的耐磨性(如摻有少量其他元素的硬金)，有良好的抗變色能力，同時金合金鍍層有多種色調，在銀上鍍金可防止變色。

并且鍍層的延展性好，易拋光，故常用作裝飾性鍍層，如鍍首飾、鐘表零件、藝術品等；也廣泛應用于精密儀器儀表、印刷板、集成電路、電子管殼、電接點等要求電參數性能長時間穩定的零件電鍍，但由于金的價格昂貴，應用受到一定限制。故此鍍金產品對于鍍層的管控較為的嚴格，然而由于鍍層極薄，能量弱，穩定性差，想要良好的管控成本及產品質量，就需要一臺性能*的光譜儀進行檢測分析。

XAU可滿足精密電子類客戶對于薄金納米級厚度的管控，實現檢測同一個點的薄金厚度，極差穩定在3-4個納米。

技術參數：